The TOBIAS透射比測量儀TBX2000測量ISO視覺漫反射光學(xué)密度 (OD) 至6.60D. 較寬的測量范圍允許對多種類型的材質(zhì)如薄膜，層壓板和基板進行評估.該設(shè)備帶有一個2.00D的校準標準但有一個可選的校準標準值需要購買。此外，TBX1500還可以測量正點和負點區(qū)域；TBX2000測量不透明度百分比和透射度。數(shù)據(jù)可以通過USB端口（配件需另外采購）上傳電子表格。TBX™可以顯示所有函數(shù)的存儲參考值的偏差。

特點：

· 軟鍵菜單操作；

· 先進的光學(xué)系統(tǒng)，滿足各行業(yè)的規(guī)格要求；

· 7.5 英寸平臺，可測量大樣本；

· 讀數(shù)可重復(fù)高；

· 可選帶通濾波器；

· USB 端口標準；

· 軟件校準；

· 可切換 LED 燈；

· TOBIAS透射比測量儀TBX2000非常適合測量金屬薄膜的光學(xué)密度。

規(guī)格：

光學(xué)設(shè)計：ANSI PH2.19；

顯示器：Graphical LCD (128x64 pixel)；

孔徑：1, 2, 3mm；

尺寸： 3(L)x9(W)x4.5(H) inches (330x229x114 mm)；

長度(臂).：7.5 inches (191mm)；

輸出端：USB；

電源：12V via universal 110/220VAC Adapter；

測量范圍：0 to 6.60D；

準確度：±0.02D；

精度：±0.01D；

預(yù)熱時間：None。